Уровень асимметрии отпечатков пальцев поможет прогнозировать риск развития диабета 2 типа

Уровень асимметрии отпечатков пальцев поможет прогнозировать риск развития диабета 2 типа

Ученые разработали метод анализа, помогающий определить склонность к диабету в раннем возрасте.

Команда ученых из Университета штата Огайо (США) разработала высокоточную технологию для определения ассиметрии папиллярных узоров на пальцах с помощью математического метода, называемого вейвлет-анализ данных. По словам исследователей, уровень асимметрии в отпечатках пальцев человека может являться маркером диабета 2 типа. Кроме того, обнаружена связь между уровнем асимметрии и диабетом 1 типа.

Ученые провели эксперимент, призванный проверить эффективность разработанного ими метода. В исследовании приняли участие 340 человек. У 200 из них был диагностирован диабет 2 типа, у 57 – диабет 1 типа. Специалисты взяли у испытуемых отпечатки пальцев и изучили их при помощи вейвлет-анализа, представляющего оттиски в виде короткой последовательности чисел. Данный вид анализа позволил ученым с высокой точностью оценить асимметричность отпечатков пальцев пациента.

Современные методы диагностики диабета полагаются на физические признаки прогрессирования заболевания или на дорогостоящий генетический анализ. Предложенный учеными метод позволяет рассматривать отпечатки пальцев новорожденных малышей в качестве индикатора возможной склонности к диабету. В настоящее время американские исследователи планируют оптимизировать метод и сделать его доступным для коммерческого использования.

 

Теги: диабет, исследование, диагностика, дактилоскопия
0